掃描電子顯微鏡的發展簡史

                        今天善時儀器的小編給大家介紹的是關于掃描電子顯微鏡的發展簡史,為了讓大家更好的理解,接下來一起跟著小編看下吧~希望能給大家帶來幫助

                       

                        一九三二年,Knoll提出了SEM可成像放大的理念,并且在一九三五年創造了極其原始的模型。

                       

                        一九三八年,德國的阿登納創造了第一臺選取縮小透鏡使用于透射樣品的SEM。因為不可以獲得高分辨率的樣品表面電子像,SEM一直得不到發展,只可以在電子探針X射線微分析儀中作為一種輔助的成像裝置。從此以后,在大部分科學家的努力之下,處理了SEM從理論到儀器結構等方面的一系列問題。

                       

                        最早期作為商品出現的是一九六五年英國劍橋儀器公司生產的第一臺SEM,它運用二次電子成像,分辨率達二十五納米,讓SEM進人了實用階段。

                       

                        一九六八年在美國芝加哥大學,Knoll成功研發了場發射電子槍,并且把它應用到SEM,可以獲得比較高分辨率的透射電子像。一九七零年他發表了使用掃描透射電鏡拍攝的鈾以及釷中的鈾原子與釷原子像,這讓SEM又進入到一個新的領域。

                       

                        綜上所述是今天深圳市善時儀器有限公司介紹的關于掃描電子顯微鏡的發展簡史,相信閱讀了以上內容也有了一定的了解。想要了解更多掃描電子顯微鏡的產品知識,可以撥打電話咨詢也可以關注我們的官方網站哦~

                       

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                      創建時間:2021-03-11 10:50
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